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日立超声波扫描仪

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日立超声波扫描仪

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应用范围:
检查IC封装及电子部品内部的剥离,裂痕,空隙等缺陷。


特性:
高品质(Fine):
新开发500MHz超音波探伤仪,大富提高影像品质,高精密度扫瞄,可产生0.5um 解析度图形17500 x 7500。
快速(Fast):
扫瞄机速度高达1000mm/sec,较传统增加67%, 搭配加大扫瞄区域,增加其单位处理量。
弹性(Flexible):
配合各种需求可搭配各式探头(Probe),提供更强的客製功能与使用的方便性。
 
产品功能:
立体倾斜式扫瞄(S-Image,日立专利):
帮助更容易取得焦点位置。
多重影像、参数储存(Image Index,日立专利):
所有参数可以与影像同时储存,对于类似待测物(Sample)可迅速取得影像。
自动多层扫瞄(Multi-gate Image):
在既定的高度,可取得多达64层影像。
完整的探头(Probe)组合。



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