Polaris专注于高要求和超快速的测量需求。稳定的结构设计使得在各种应用环境，包括在线，现场和实验室，均能够精准测量。强大的Polaris软件既能满足产线自动化重复检测需求，又能针对实验室的各种不同要求进行灵活配置。Polaris X/Y标准行程高可达400mm*400mm，在高速模式下，1秒内可测量6000条线。
●高精度
●超快速测量
●适用于在线检测
●非接触式测量
●稳定，免维护
●多种扩展分析工具可选
相关应用：对材料/产品/工件做表面非接触式三维形貌扫描，分析2D/3D表面形貌、轮廓几何尺寸（长度、宽度、深度、角度、面积、体积等）、表面粗糙度、平整度、翘曲、曲率、面形精度、摩擦磨损及腐蚀等参数指标。
行业应用
硅微透镜阵列
硅微透镜阵列，常见用于红外波段的传感器中，提高信号收集效率和检测精确度。微型透镜阵列（MLA）可用于广泛的领域，从汽车、医疗、消费和工业光学到航空航天仪器的优异传感器。它们可以对来自不同光源（如LED或激光器）的光线进行准直、匀化和成像。近年来，MLA在照明方面的使用需求越来越少，但在各种传感器中的使用却越来越多。由于其出色的光学特性，MLA通常是成像和非成像光学系统的关键部件。对于高质量的MLA来说，精准的非球面透镜面型是必要的，而且所有微型透镜也要求被精准地安放到位。对MLA的工业检测通常是一项非常具有挑战性的任务。特别是当这些设备是利用微细加工技术大量生产时，不仅测量精度很重要，而且测量速度也很重要。
小型透镜的优势不仅在于取代经典光学器件：晶圆级光学器件是可以率先想象的，因为现在的光学器件可以在微米范围内制造。在这里，透镜经过工业测试的半导体技术直接制造。在某些情况下，这种方法可以使光取代集成半导体中的电流。这些微型化结构的大规模使用及其对精确粘附于所需形状的强烈依赖性，需要对工艺质量进行监控。除了材料成分外，透镜的形状对光学性能也起着决定性作用。由于测量时间长，接触测量方法仅在有限的范围内适用，因此必须找到替代方案。
