FlexSEM1000是日立高新公司新推出的一款机型小巧性能优异的钨灯丝电镜,拥有大束流和低球差的物镜和聚光镜设计,配备了高分辨率二次电子探头及高灵敏度五分割背散射探头,具有低真空成像能量,并且采用新的SEM MAP高精度导航系统及自动化功能,使性能更加优越,使用更加简便。
分辨率 | 4.0nm(加速电压20kV,高真空模式,二次电子像) |
15.0nm(加速电压1kV,高真空模式,二次电子) | |
5.0nm(加速电压20kV,低真空模式,背散射电子像) |
放大倍率 | 底片倍率:6 – 300,000x |
显示器倍率:16 – 800,000x |
加速电压 | 0.3-20kV |
低真空可变压力范围 | 6-100Pa |
马达台 | 标配三轴自动马达 |
行程 | X: 0-40mm |
Y: 0-50mm | |
R: 360 ° | |
Z: 5-15mm | |
T: -15- 90° | |
电子光学系统 | 电子枪:预对中钨灯丝 |
信号检测系统:二次电子探测器;高灵敏度背散射探测器 |
真空系统 | 全自动阀门控制抽真空系统/涡轮分子泵:61L/S 1台 |
机械泵:100L/min 1台 | |
安全装置:带停电、漏电保护的真空保护功能 | |
操作辅助功能 | 电子束旋转;动态聚焦;画质优化功能 |
数据输入;2点间测量、角度测量、文字;预设倍率; | |
样品台位置导航功能(SEM MAP);电子束标记 |
FlexSEM 1000 II,凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器,可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面,具有亮度和对焦自动调节功能,可以在短时间内进行各种观察。此外,还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”,这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点,实现*直观的视野移动。
· 尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜,仍可实现4.0 nm的分辨率
· 凭借独特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器(UVD*2),可在低加速/低真空下观察时实现*高的画质
· 全新的用户界面,无论用户的熟练程度如何,都可实现高画质和高处理能力
· 全新的定位功能“SEM MAP”,支持观察时的视野搜索和样品定位
· 大直径(30毫米2)无氮EDS检测器,可快速进行元素分析*2
*1设置到桌面上时,请将机体与电源盒分离
*2选项
小型高性能色谱柱
尺寸虽小,却具备同类产品中*高的分辨率。
金颗粒沉积 加速电压:20 kV 倍率:60,000倍 信号:SE 分辨率:4 nm |
金颗粒沉积 加速电压:20 kV 倍率:50,000倍 信号:BSE 分辨率:5 nm |
高画质
配备可优化放射电流的功能,以便在较低的加速电压下也能获得足够的亮度,而获得噪点小且清晰的图像。
储氢合金 加速电压:5 kV 倍率:30,000倍 信号:SE、无金属涂层 |
Al-Ni复合材料 加速电压:3 kV 倍率:10,000倍 信号:BSE、无金属涂层 |
可用高画质和快速观察
搭载GUI和自动调节功能,让初学者也能得心应手。只要按一下自动对焦(AFC)、自动亮度调节(ABCC)按钮,就可以获得*佳的图像。(自动调节:与以往相比,缩短时间约13秒*3)当然,也可以通过触屏进行操作。
*3对比日立SEM SU1510
全新定位系统“SEM MAP”
“SEM MAP”功能可有效实现观察时的视野搜索和样品定位。根据内置摄像头所拍摄的图像,定位样品,一键点击即可移动到观察部位。
在SEM MAP上导入的图像会自动进行粘贴,并以分布图的形式显示。
可放置在桌面上的紧凑型电子显微镜
宽幅仅为45厘米,紧凑型设计,*大程度地减小占用空间。机体仅支持AC100 V 3P电源插座。此外,机体和电源盒可以分离,从而大幅度提升诸如桌面设置等的布局灵活性。
技术参数 :
分辨率 | 4.0nm(加速电压20kV,高真空模式,二次电子像) |
15.0nm(加速电压1kV,高真空模式,二次电子) | |
5.0nm(加速电压20kV,低真空模式,背散射电子像) |
放大倍率 | 底片倍率:6 – 300,000x |
显示器倍率:16 – 800,000x |
加速电压 | 0.3-20kV |
低真空可变压力范围 | 6-100Pa |
马达台 | 标配三轴自动马达 |
行程 | X: 0-40mm |
Y: 0-50mm | |
R: 360 ° | |
Z: 5-15mm | |
T: -15- 90° | |
电子光学系统 | 电子枪:预对中钨灯丝 |
信号检测系统:二次电子探测器;高灵敏度背散射探测器 |
真空系统 | 全自动阀门控制抽真空系统/涡轮分子泵:61L/S 1台 |
机械泵:100L/min 1台 | |
安全装置:带停电、漏电保护的真空保护功能 | |
操作辅助功能 | 电子束旋转;动态聚焦;画质优化功能 |
数据输入;2点间测量、角度测量、文字;预设倍率; | |
样品台位置导航功能(SEM MAP);电子束标记 |
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